XUV® 773 X射线荧光测试仪 商品介绍

FISCHERSCOPE X-RAY XUV仪器配有一个可抽真空的大型测量箱。其所装备的大面积硅漂移探测 器能够探测低至1 keV的荧光辐射能量，从而能够有效地测量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni 的L辐射。大孔径准直器的使用大幅提高了信号计数率，使仪器可以达到极小的重复精度和极低的测量下限。XUV非常适合测量极薄的镀层和痕量分析。

采用不同的准直器和基本滤片组合，能够保证每 一次的测量都在佳的条件下完成。在测量的同时，可以直观地查看测量点的影像。仪器测量空间宽大，样品放置便捷，配合可编程的XYZ轴工作台，既适合测量平面、大型板材类样品，也适合形状复杂的样品。并且使得连续测量分析镀层 厚度或元素分析也变得直观而简单。仪器配有一个激光定位点作为辅助定位装置，进一步方便了 样品的快速定位。

基于仪器的通用设计以及真空测量箱所带来的扩展的 测量能力，使得FISCHERSCOPE X-RAY XUV不仅可用 于研究和开发，也非常适合过程控制和实验室使用。

XUV® 773 X射线荧光测试仪 商品特点

带铍窗口的微聚焦X射线铑管，可选钨管和钼管。高工作条件：50 kV, 50W

X射线探测器采用珀尔帖致冷的硅漂移探测器

准直器：4个，可自动切换，从直径0.1mm到3mm

基本滤片：6个，可自动切换

可编程XYZ工作台

摄像头用来查看基本射线轴向方向的测量位置。刻度线经过校准，显示实际测量点大小。

可在真空，空气或者氦气的环境下工作

XUV® 773 X射线荧光测试仪 商品应用

测量轻元素

测量超薄镀层和痕量分析

常规金属分析鉴定

非破坏式宝石分析

太阳能光伏产业

XUV® 773 X射线荧光测试仪 实例应用

种类、来源和真实性，是评估宝石价值的本质特征；而宝石材质的分析结果则是影响判断的决定性因素。通常，宝石的主要成份是铝和硅的氧化物，还会伴随有镁和钠等元素。另外，Cr、Fe、Ga等微量元素也是很重要的。XUV可以分析所有必要元素的光谱图。

在多个领域的应用中，非常薄的Al镀层、Si镀层、氧化铝镀层和氧化硅镀层正在变得原来越重要。在真空环境中镀层厚度的测量结果有显著的提高。使用XUV来测量这些镀层，重复精度仅几个纳米。